電子顕微鏡室

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電界放出形透過電子顕微鏡(JEOL JEM-2100F)

[用途の概要]

切片、薄膜の透過像観察用の高分解能透過型電子顕微鏡です。

[仕様]

分解能

0.14nm

加速電圧

140 〜 200KV

倍率

1,000x 〜 800,000x

試料室

サイドエントリー方式

電子線源

電界放出形アノード

[注意事項]

• 操作の指導などが必要な場合は習熟するまではセンターの認定する利用者について操作を教わってください。
• 試料交換の際の試料ホルダーの出し入れは水平に行って下さい。
• 試料ホルダーの先端部には絶対に手を触れないで下さい。又、先端部をぶつけないで下さい。
• 試料ホルダーを試料ステージにセットする前に必ず試料ホルダーの周りにゴミ、埃等の付着物が無いか確認してください。
• 撮影データの取り出しはUSBフラッシュメモリで行って下さい。
• 試料交換の際の試料ホルダーの出し入れは水平に行って下さい。
• 試料ホルダーの先端部には絶対に手を触れないで下さい。又、先端部をぶつけないで下さい。

[設置年度]

1998年度

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走査型電子顕微鏡 (日本電子 JSM-6510)

[用途の概要]

モニタを良く見てそれらしいところをクリックしていくだけで、びっくりするほど簡単に使える小型走査電顕です。

[仕様]

分解能

3nm (30KV) 〜 15nm (1KV)

加速電圧

140 〜 200KV

倍率

5x 〜 300,000x

加速電圧

0.5KV 〜 30KV

低真空モード

10Pa 〜 270Pa

[注意事項]

• 試料交換の際は試料室操作の指導などが必要な場合は、担当者までご連絡下さい。
• 試料交換の際は試料室汚染防止にご注意ください。
• 撮影データの取り出しはUSBフラッシュメモリで行って下さい。

[設置年度]

2009年度

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超ミクロトーム (Leica EM UC7)

[用途の概要]

透過電子顕微鏡の試料作製機器で、樹脂包埋した試料を超薄切するのに用います。

[仕様]

試料送り量

5nm 〜 15µm

切削速度

0.05mm/s 〜 100 mm/s

[利用方法]

• 試料ホルダーの押さえネジを締め過ぎないようにして下さい。ネジ山がつぶれる恐れがあります。